INSPECTRA(TASMIT)

INSPECTRAのおすすめポイント

クリーンかつハイスピードに対応

INSPECTRAシリーズはハイスピードで効率のいい自動検査を実現。前工程から後工程に至る、すべての検査に対応しています。INSPECTRAシリーズには高いクリーン度が求められる工程に対応した機械も用意されており、工程に合わせて検査装置を選択可能です。TASMIT社のSRシリーズの後継機である3000SR-Ⅲ200や3000SR-Ⅲ300は、SRシリーズと比べて1.5倍の感度。感度の高さと全数検査の両立が図られているのが、INSPECTRAシリーズの特徴です。

アルゴリズムによって欠陥を検出

「良品学習アルゴリズム(DSI比較法)」を採用しているINSPECTRAシリーズ。このアルゴリズムがプロセスの変動要因を吸収してくれるので、類似欠陥の発生を抑えられます。検査の精度が高めるのに余念がないTASMIT社の姿勢がうかがえます。

ワークサイズの大きさによって製品を選択できる

ワークサイズによってさまざまな製品が選択できるINSPECTRAシリーズ。2~8インチの「7000SR-Ⅲ200」「3000SR-Ⅲ200」、8~12インチの「7000SR-Ⅲ300」「3000SR-Ⅲ300」がラインナップされています。3000SRシリーズは、各種LSI,CIS、MEMSなどの高感度検査にも対応しているのが特徴です。検査したい対象物の大きさや検査の内容によってシリーズから選択できます。

INSPECTRAでできる検査

欠陥分類

欠陥の検出だけでなく、オプションで自動欠陥分類ができます。欠陥を分類することで、今後の欠陥品の原因や改善に役立てることができるでしょう。結果解析機能も装備可能。製品の精度を高めるために、多様な機能をオプション装備できます。

欠陥カラー画像保存

INSPECTRAは欠陥カラー画像を保存可能。レビュー装置を使用すれば、欠陥のアドレスから欠陥画像を取得し、分類まで可能です。レビュー装置は高精細画像を高速で取得。ADCシステムとの接続で欠陥分類し効率化を実現します。撮影条件は欠陥モードに応じて任意に設定可能です。

ノンパターン検査

パターンなしの検査では、画像を比較することなく欠陥を検出してくれるINSPECTRA。検出器は、異物や欠陥による光の散乱を読み取ります。また、位置ずれや欠陥イメージがなくても不良品を検出できる機能をオプションで装備可能。検査の幅が広がる検査装置だと言えます。

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ZENITHのスペック概要

製作会社 TASMIT株式会社
検査精度(最小単位) 要問合せ
用途(検査対象) 半導体
検査項目 要問合せ
検査方式 画像処理方式
出力情報 要問合せ

製作会社・東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー(TASMIT)について

東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー(TASMIT)は、半導体検査技術を生かした検査装置の開発に取り組んでいるメーカーです。光学式半導体ウエーハ検査装置INSPECTRAと電子線式半導体ウエーハパターン検査装置NGRの2つを主力製品とし、高品質なソリューションの提供を通して半導体デバイス製造に貢献しています。

東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー(TASMIT)の基本情報

所在地 神奈川県横浜市港北区新横浜2-6-23 金子第2ビル
対応実績 検査装置、高速検査、高倍率検査、全数自動検査など
自動車工場_画像
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