クリーンかつハイスピードに対応
INSPECTRAシリーズはハイスピードで効率のいい自動検査を実現。前工程から後工程に至る、すべての検査に対応しています。INSPECTRAシリーズには高いクリーン度が求められる工程に対応した機械も用意されており、工程に合わせて検査装置を選択可能です。TASMIT社のSRシリーズの後継機である3000SR-Ⅲ200や3000SR-Ⅲ300は、SRシリーズと比べて1.5倍の感度。感度の高さと全数検査の両立が図られているのが、INSPECTRAシリーズの特徴です。
アルゴリズムによって欠陥を検出
「良品学習アルゴリズム(DSI比較法)」を採用しているINSPECTRAシリーズ。このアルゴリズムがプロセスの変動要因を吸収してくれるので、類似欠陥の発生を抑えられます。検査の精度が高めるのに余念がないTASMIT社の姿勢がうかがえます。
ワークサイズの大きさによって製品を選択できる
ワークサイズによってさまざまな製品が選択できるINSPECTRAシリーズ。2~8インチの「7000SR-Ⅲ200」「3000SR-Ⅲ200」、8~12インチの「7000SR-Ⅲ300」「3000SR-Ⅲ300」がラインナップされています。3000SRシリーズは、各種LSI,CIS、MEMSなどの高感度検査にも対応しているのが特徴です。検査したい対象物の大きさや検査の内容によってシリーズから選択できます。
欠陥分類
欠陥の検出だけでなく、オプションで自動欠陥分類ができます。欠陥を分類することで、今後の欠陥品の原因や改善に役立てることができるでしょう。結果解析機能も装備可能。製品の精度を高めるために、多様な機能をオプション装備できます。
欠陥カラー画像保存
INSPECTRAは欠陥カラー画像を保存可能。レビュー装置を使用すれば、欠陥のアドレスから欠陥画像を取得し、分類まで可能です。レビュー装置は高精細画像を高速で取得。ADCシステムとの接続で欠陥分類し効率化を実現します。撮影条件は欠陥モードに応じて任意に設定可能です。
ノンパターン検査
パターンなしの検査では、画像を比較することなく欠陥を検出してくれるINSPECTRA。検出器は、異物や欠陥による光の散乱を読み取ります。また、位置ずれや欠陥イメージがなくても不良品を検出できる機能をオプションで装備可能。検査の幅が広がる検査装置だと言えます。
検査ユニットの販売だけでなく、検査装置全体をワンストップで依頼できる機械製作会社を紹介しています。
| 製作会社 | TASMIT株式会社 |
| 検査精度(最小単位) | 要問合せ |
| 用途(検査対象) | 半導体 |
| 検査項目 | 要問合せ |
| 検査方式 | 画像処理方式 |
| 出力情報 | 要問合せ |
東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー(TASMIT)は、半導体検査技術を生かした検査装置の開発に取り組んでいるメーカーです。光学式半導体ウエーハ検査装置INSPECTRAと電子線式半導体ウエーハパターン検査装置NGRの2つを主力製品とし、高品質なソリューションの提供を通して半導体デバイス製造に貢献しています。
| 所在地 | 神奈川県横浜市港北区新横浜2-6-23 金子第2ビル |
| 対応実績 | 検査装置、高速検査、高倍率検査、全数自動検査など |