引用元:株式会社オプティマ公式HP(https://www.optima-1.co.jp/product/)高感度検査が可能
オプティマのウェーハエッジ自動欠陥検査装置「RXW-1200D」ではデバイス製造におけるエッジトリミング・貼合せ・シニング後の検査が可能。暗視野切替え機能を搭載しており、高感度検査を実現しています。さらに自動で欠陥分類を行うADC機能やEBR後のボーダー測定機能も備えています。
ウェーハ製造プロセス対応タイプも
オプティマではウェーハ製造プロセスに対応した「RXW-1200F」も取り扱っています。
自社独自のレーザー応用技術を採用しており、レーザーによる欠陥抽出とエリアセンサを用いた画像判定を実施。シリコンウェーハの直径や厚さ、貼合せのズレなどを測定し、自動で抽出してくれます。
ダメージを与えずに測定可能
ウェーハエッジ自動欠陥検査装置「RXW-1200F」ではエッジグリップハンドリングオプションも用意しているため、ウェーハにダメージを与えずに検査を行えます。検査中にウェーハに傷つけてしまうといったリスクを下げられるのは大きなメリットといえるでしょう。
半導体デバイスの検査
ウェーハエッジ自動欠陥検査装置「RXW-1200D」には高倍率AFカラーカメラを搭載しており、ADR機能によって自動欠陥検出が可能です。また、ラインセンサによる全周の画像取得が可能なため、検査漏れがありません。
半導体ウェーハの直径・厚さ
ウェーハエッジ自動欠陥検査装置「RXW-1200F」ではウェーハのエッジ部分の寸法測定を行い、直径や厚さに登録データとのズレがないかを検査します。
半導体ウェーハの貼合せズレ
「RXW-1200F」では、ウェーハ貼り合わせ後に上側・下側のズレがないかの検査も行えます。エッジグリップハンドリングオプションでダメージを与えずに検査が可能。
検査ユニットの販売だけでなく、検査装置全体をワンストップで依頼できる機械製作会社を紹介しています。
| 製作会社 | 株式会社オプティマ |
| 検査精度(最小単位) | 記載なし |
| 用途(検査対象) | 半導体デバイス・半導体ウェーハ |
| 検査項目 | デバイスの検査、ウェーハの直径・厚さ・貼合せズレ測定など |
| 検査方式 | レーザー・画像処理方式 |
| 出力情報 | 記載なし |
オプティマは半導体ウェーハ検査装置・測定装置の開発・製造および販売に取り組んでいる会社です。独自の検査測定技術を生かしたソリューションの提供で、品質向上とコスト低減に貢献。チャレンジ精神を大切にしており、世界一のソリューションの提供を目指しています。
| 会社の所在地 | 本社:神奈川県川崎市麻生区栗木2-8-18 |
| 対応実績 | 半導体ウェーハ検査装置、自動化技術など |