表面外観検査装置「PIE-650」（池上通信機）

PIE-650は、データレート(帯域幅)最大850MHzの高速スキャンカメラに対応できるシート表面検査装置です。
プッシュポイントは「速さ」と「正確性」。PIE-650はフィルム・ガラス・樹脂・不織布など連続したシート状の材料を、高速・高精細に欠陥検出することができます。速く正確な欠陥検出により、高い生産効率をもたらします。

PIE-650は、それぞれの検査ニーズに合わせてカスタマイズできる柔軟性に富んだ検査装置です。小規模から大規模まで状況に応じてフレキシブルなシステム構築ができるほか、検査に使用するソフトウェアは、顧客の要望に基づいてカスタムできます。自社の現場に適した検査体制を整備できるのがメリットです。

欠陥マップや画像データ、統計情報など各種のデータを表示することが可能。欠陥マップのリアルタイム表示、検査結果のシミュレーション、検査結果の統計情報は数値で表示できるなど、利便性良好です。必要なデータを表示して比較しながら検査を進めることができるため、検査の効率性が高まります。

PIE-650は、シート状の欠陥検出(シート検査)に対応する表面検査装置です。細かなチェックを要する半導体開発現場においても、新開発のアルゴリズム搭載により製品表面の「異物」「傷(キズ)」「汚れ」をはじめとする様々な欠陥検出が可能です。

フィルムやガラスなどのキズや汚れ検査にも対応可能なPIE-650。ライン型LED照明／メタルハライドランプ／高周波蛍光灯／ハロゲンランプなどの各種照明を使い、陰影を撮影することで表面異物の検出にも役立ちます。

昨今需要が大きく増えている不織布やゴムなどの表面検査においてもPIE-650が活用できます。シート状の不織布やゴムに穴が開いていないか、破れがないかなどを高い精度で検査可能です。